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半導體微汙染監測設備
半導體製程於廠區與設備環境之AMC監測全方位解決方案
設備詳細
NFA-1007Ad
智能氣態分子微汙染監測系列-在線氣態有機微汙染監測設備
可智能化監測半導體無塵室中對矽晶圓有潛在危害之 MC/VOCs,大面積即時監測百種以上揮發性或是半揮發性之有機化合物,間接協助半導體製程提升良率。
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設備特點
設備規格
樣品採集
最多可設置 80 個監測點位 (24hr),
超潔淨 PFA 佈管距離最長可達 150 m
監測管路皆為活氣狀態,以保持即時性監測
獨家開發 VOCs 濃縮裝置 (NFC-SHTD)
Offline 離線分析進樣點位
分析整合系統
以氣相層析技術 (GCMS) 分析VOCs
一次分析即可看所有監測目標物
內建標準氣體供數據分析比對與校驗定量使用
自我檢核機制 (Auto BK & QC)
NF智能軟體系統
直覺化操作介面
大數據資料庫搭配自動作圖軟體功能,快速查看長時間的數據變化
客製化報告輸出格式
數值超標鎖點回饋機制 (金兆益獨家)
安全設計
通過 SEMI S2 與 SEMI S23
AMC Monitoring Series in Semiconductor Industry
搭配產品項目:
【NF 標準氣體】
【超潔淨 PFA 管】
NFA-1007Ad
Items
Description
尺寸
W 1400 mm * D 1100 mm * H 2500 mm (含三色燈);600 kg
技術基礎
EI-GCMS / 電子撞擊四極杆式質量譜線分析儀
*為 IRDS (International Roadmap for Devices and Systems) 建議的分析方法
樣品採集方式
超潔淨 PFA 佈管,監測點位 16~80 ports
*另外設置 offline 離線分析進樣口
採樣距離
距離最遠達 150 m
資料庫能力
FATC 資料庫 (Fab Air Trace-Contamination Database)
*半導體行業專用揮發性有機氣體資料庫
解析能力
38 種 VOCs 全定量 / 百種 VOCs 半定量與未知物開發 (氟、氯、溴、硫化物類 VOCs 可全方位監測)
監測極限 (MDL)
20~150 pptv 全 VOCs 物種
分析時間
< 15 min (第一筆之後)
* 一次分析輸出所有關注化合物
設備效能
監測範圍 / 檢量線範圍:5 ~ 100 ppbv
連續分析 5 ppbv STD gas:RSD <10 %
連續分析5 ppbv STD gas,各化合物之回收率落在 20% 以內
獨家功能
數值超標鎖點回饋
相關認證
SEMI S2
SEMI S23
相關設備
NFA-C350
智能氣態分子微汙染監測系列-在線離子監測設備
NFA-ALIS
智能氣態分子微汙染監測系列-離線揮發性有機監測設備
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