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半導體微汙染監測設備
半导体微汙染监测设备
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半導體微汙染監測設備
半導體製程於廠區與設備環境之AMC監測全方位解決方案
半導體微汙染監測設備
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NFA-C350t
高效在線環境空氣離子微汙染監測設備
智能化監測無塵室中嚴重影響矽晶圓良率之 MA/MB 污染氣體,以每筆數據 10 分鐘產出速度快速掃瞄全廠區,可間接提升半導體製程良率,為業界性能最高規之智能監測設備,同時也是金兆益旗艦款。
NFA-C350
在線環境空氣離子微汙染監測設備
智能化監測無塵室中嚴重影響矽晶圓良率之 MA/MB 微汙染氣體,單機即可進行 MA 與 MB 分析,以短時間連續分析快速掃瞄全廠區,可間接提升半導體製程良率,為金兆益標規款 MA/MB 監測設備。
NFA-1007Ad
在線氣態有機微汙染監測設備
可智能化監測半導體無塵室中對矽晶圓有潛在危害之 MC/VOCs,大面積即時監測百種以上揮發性或是半揮發性之有機化合物,間接協助半導體製程提升良率。
NFA-ALIS
智慧型採氣罐氣態分子微汙染分析設備
半導體廠經常以採氣罐採集環境氣體進行後續分析,特別是對矽晶圓有危害之 MC/VOCs,為了提供客戶分析便利性,NFA-ALIS 可協助多組採氣罐連續分析,並智能化完成所有分析程序。
NFC-T08
採氣罐自動清洗設備
針對VOCs微量檢測分析使用之採氣罐進行自動化的清洗程序,符合美國EPA測定方法清洗要求,幫您省去繁瑣的清洗作業。
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