金兆益科技股份有限公司
關於我們
最新消息
公司介紹
歷史沿革
企業永續
認證與評鑑
產品介紹
半導體微汙染監測設備
半导体微汙染监测设备
Semiconductor Micro-Contamination Monitoring Solution
電子級超高純度標準試劑
農藥殘留標準試劑
其他
委託檢測服務
RESTEK
應用文章
下載專區
下載專區
會員專區
聯絡我們
客服表單
菁英招募
簡體中文
English
半導體微汙染監測設備
半導體微汙染監測設備
顯示
圖示
列表
NFA-i108 series
智能電子化學品在線品質監測系列
智能化監測電子化學品或超純水內所殘留之微量金屬元素、微量離子及量測奈米粒子之粒徑,協助半導體相關產業快速進行化學品入料檢驗、製程中點位監測或化學品原料供應商執行出貨檢驗等。品質監測系統可間接協助半導體廠回溯影響良率的問題點,堪稱微污染的放大鏡。
NFA-C350t
高效在線環境空氣離子微汙染監測設備
智能化監測無塵室中嚴重影響矽晶圓良率之 MA/MB 污染氣體,以每筆數據 10 分鐘產出速度快速掃瞄全廠區,可間接提升半導體製程良率,為業界性能最高規之智能監測設備,同時也是金兆益旗艦款。
NFA-1007Ad
在線氣態有機微汙染監測設備
可智能化監測半導體無塵室中對矽晶圓有潛在危害之 MC/VOCs,大面積即時監測百種以上揮發性或是半揮發性之有機化合物,間接協助半導體製程提升良率。
NFA-1007w
在線晶圓表面逸散性有機微汙染監測設備
智能與自動化矽晶圓表面逸散性有機化合物分析監測設備,石英晶圓加熱腔體可分區加熱,並採集特定晶圓表面區域的 MC/VOCs。
NFA-C350i
在線電子氣體自動取樣設備
提供智能化製備電子特殊氣體及大宗氣體之液態樣品,使取樣程序兼具安全性、穩定性與高效性。
NFA-C350c
在線電子氣體微量離子不純物監測設備
智能化監測電子特殊氣體或大宗氣體之離子殘留,提供從樣品製備到分析數據一條龍之自動檢測流程。
第一頁
上一頁
下一頁
最尾頁
頁次:
1
資料總數:6
購物車
0
會員登入
購物須知
TOP